MCS640 碳化硅多孔陶瓷温度高温短波红外热像仪在化硅多孔陶瓷动态变化测量
由于被测的陶瓷达到一定温度后，变为高亮物体，而高亮物体在测温中，往往会对瞄准方式所带来很大的影响，人肉眼无法直视高亮光，另外红色激光瞄准光又在高亮背景中完全被掩盖而无法看见，而采用目视取景器瞄准，则不利于精确瞄准定位，无法标定温度数据更准确。
MCS640红外热像仪，采用 1μm左右的近红外短波的探测器来实现测温和成像。优势是高温陶瓷用短波测量更准确，且短波能有效穿透洁净火焰，避免火焰造成的干扰。
MCS640 可对碳化硅多孔陶瓷温度分布作动态测量，并记录各点温度数据，实时观测整个陶瓷圆盘表面的温度数据及温度场的分布以及变化。可对小目标进行测量。可具有等温线功能，对温度分布作等温分析，可捕捉某一区域内最高温、最低温、平均温。可对同一点不同时刻温度作曲线图。
MCS640红外热像仪优点
• 高精度，0.5％的测量值
• 超过 300,000 个温度测量点
• 恒温传感器具有极高的无漂移稳定性
• 千兆以太网接口
• 远程控制操作，确保安全性
• 实时成像，最高可达 60 Hz 的更新速率
• 可聚焦或定焦镜头，可测极小目标和温度差异
• 易于处理
• 极其坚固的外壳，带防护窗，防护等级为 IP65
• 短波探测器，准确测量高温目标和穿透洁净火焰
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