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双色红外测温仪 半导体晶体真空炉专用

作者:admina来源:时间:2023-02-27 17:56:59浏览量:500人阅读

  

PA20/MAF1高温辐射温度计650-1600

双色红外测温仪 半导体晶体真空炉专用

高温计产品特点

高温计测温范围覆盖250℃~3000℃(分段)

比色高温计测温精度可达0.5%,重复精度为2℃,部分产品分辨率达0.1℃

辐射高温计 响应时间10ms~99.99s可调

光学高温计采用可调焦镜头,测量距离0.35m至无穷远

红外测温仪探头对探测器采用PID恒温控制,消除环境温度对测量的影响

固定红外测温仪采用1:1高亮度绿色LED光源或可视目镜,清晰显示被测目标的位置及大小

红外高温计兼具双色和单色测温功能

在线激光双色红外测温仪自净模式下,有镜头脏检测功能

高温计采用工业级OLED屏为显示界面,人机界面友好

红外测温仪外设接口:2路独立的模拟量输出、2路报警输出、1路电平输出以及1路RS485通讯接口。

高温计采用智能软硬件等抗干扰设计提高系统稳定性,可抗2500VDC脉冲群干扰

激光红外测温仪有抗氧化测量功能,测量时不受氧化物的影响

在线红外测温仪采用多通道测温仪总线级联,通过PC实现网络化控制

超高温双色测温仪

测温范围

600℃~1600

600℃~1800

700℃~2500

700℃~3000/3200

单色工作波长

1.08μm

比色工作波长

波长1:(0.71.08)μm;波长 21.08μm

主要应用

热轧、线棒材、金属锻造、铸造、感应加热、溶化的玻璃、水泥窑、半导体、真空炉、多晶硅、单晶硅

高温炉、石墨炉、真空炉、半导体

测量距离

标准焦距:0.35m至无穷远可调;近焦距:0.2m0.5m

测量精度

±0.5%TT为测量温度值)

分辨率

0.1

重复精度

±2

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